JEOL anuncia el lanzamiento del nuevo microscopio electrónico de barrido por emisión de campo Schottky JSM-IT810 el 28 de julio de 2024.
Los microscopios electrónicos de barrido de emisión de campo (FESEM) se utilizan ampliamente en los campos de la ciencia y la tecnología, como institutos de investigación, universidades e industria.
Existe una creciente demanda de un instrumento que pueda usarse de manera fácil, precisa, rápida y eficiente desde la observación hasta el análisis.
Así, el modelo JSM-IT810 agrega la función automática de observación y análisis «Neo Action» y la función de calibración automática al JSM-IT800, que está equipado con el sistema de control óptico electrónico de próxima generación «Neo Engine» y el «Centro SEM» para una alta operatividad, como la integración de Zeromag y EDS, no solo para mejorar la eficiencia y la productividad, sino también para ayudar a resolver la escasez de mano de obra.
Principales características
En primer lugar, su función automática de observación y análisis Neo Action selecciona las condiciones de adquisición de imágenes SEM y el campo de visión, y la función realiza automáticamente la observación SEM y el análisis EDS (espectroscopia de rayos X de dispersión de energía). Esta función contribuye a mejorar la eficiencia del trabajo rutinario, incluido el trabajo de análisis.
Después, la función de calibración automática Paquete de ajuste automático SEM permite la ejecución automática de los elementos seleccionados en el ajuste de alineación, el ajuste de aumento y la calibración de energía EDS.
En tercer lugar, es capaz de funciones de 3D en vivo, análisis en vivo y mapa en vivo. Se pueden construir imágenes 3D en el lugar mientras se realiza una observación SEM para obtener información sobre desniveles y profundidad. Además, ayuda a mostrar siempre el espectro de rayos X característico y el mapeo elemental.
Finalmente, mencionamos su integración de EDS, con la observación por un SEM y el análisis por un EDS. El análisis de punto, área y mapa se puede realizar desde la pantalla de observación.
La incorporación del EDS-Gather-X sin ventanas en el modelo Schottky JSM-IT810, permite la detección de Li y el análisis con una alta sensibilidad y resolución espacial.
